首飾新材料研發(fā)、貴金屬鍍層工藝實驗室，在開發(fā)鍍金、銠鍍層、K 金合金配方的過程中，需要精準分析鍍層成分、基材合金配比，研究不同工藝下元素組分變化。很多樣品存在曲面、凹面結(jié)構(gòu)，普通光譜設(shè)備光斑偏移，影響鍍層成分分析結(jié)果；化學制樣檢測會破壞樣品，無法觀測同一試樣多點位成分差異。藍景 XRF-Met2-90 貴金屬 X 射線熒光光譜儀，滿足貴金屬合金、鍍層研發(fā)實驗分析需求。

 儀器一體化臺式設(shè)計，11.6 英寸高清觸控大屏，Win10 四核系統(tǒng)，軟件開機自啟，操作界面簡潔直觀，科研人員可快速設(shè)置檢測參數(shù)。出廠完成精密校準，無需頻繁使用標樣校準，減少實驗前期準備工作。垂直光路結(jié)構(gòu)，圓形光斑定位精準，針對曲面鍍層試樣、凹面首飾樣件，保證光斑穩(wěn)定落在待測區(qū)域，減少曲面帶來的測量誤差。內(nèi)置高清攝像頭與 LED 照明，實時觀測樣品測點，支持多點位置比對測試。 

高性能 Si-Pin 探測器搭配數(shù)字多道分析器，一次性分析 72 種元素，精準測定金、銀、鉑、鈀，同時檢出銠、銥、鎢、錸、銅、鋅、鎳等合金與鍍層元素，9999 黃金檢測精度 ±0.05%。儀器自動匹配貴金屬分析曲線，也可根據(jù)科研需求調(diào)整檢測時長，10 秒快速篩查、延長時間獲取高精度數(shù)據(jù)，滿足配方對比實驗需求。錸鎢元素自動報警，可用于研究摻假元素光譜特征。 

多重安全防護設(shè)計，高壓運行警示燈，開蓋斷電保護，保障實驗室科研人員安全。無損檢測，樣品檢測后保持原樣，同一塊試樣可以開展多點、多次重復(fù)測試，減少實驗樣品消耗，節(jié)約研發(fā)試樣制備成本。設(shè)備除固體樣品外，支持金銀鉑鈀粉末、液態(tài)貴金屬樣品定制檢測，適配熔煉、電鍍?nèi)芤旱仍戏治觥Ｕ麢C額定功率 120W，環(huán)境適應(yīng)性強，適合實驗室長期不間斷科研測試。 

材料研發(fā)實驗室、首飾工藝研發(fā)企業(yè)使用藍景 XRF-Met2-90 貴金屬光譜儀，測試不同配比 K 金合金、貴金屬鍍層樣品，分析鍍層元素含量，對比不同電鍍、熔煉工藝下成分變化，篩選合金配方與鍍層工藝。可在同一件試樣多個點位測試，評估鍍層均勻性，獲取原始實驗數(shù)據(jù)支撐論文、項目報告。設(shè)備數(shù)據(jù)動態(tài)實時顯示，直觀觀察各元素占比，幫助研發(fā)人員快速評估配方效果，縮短貴金屬新材料、首飾鍍層工藝研發(fā)周期。