技術(shù)文章
市面常規(guī)激光粒度儀采樣速度普遍僅3000-5000次/秒,數(shù)據(jù)采集密度低、響應(yīng)速度慢,樣品通過激光光束時采集幀數(shù)不足,無法捕捉瞬時顆粒散射信號,極易造成細(xì)微粒徑數(shù)據(jù)缺失、粒度分布擬合偏差。低速采樣設(shè)備單次測量耗時普遍超過20秒,大批量樣品檢測效率低下,無法滿足工業(yè)產(chǎn)線常態(tài)化快速質(zhì)檢需求。同時低速主板信號處理能力弱,面對高濃度、寬分布粉體,信號解析滯后,容易出現(xiàn)數(shù)據(jù)波動、重復(fù)性差的問題,Dv50-誤-差普遍大于±0.8%,無法滿足粉體精密質(zhì)控標(biāo)準(zhǔn)。



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